通过对测试向量的适当划分与赋值，使测试时间减少和测试功耗降低。在ITC2002的d659电路上的实验结果表明，与串行设计相比，并行外壳设计能够减少约50％的测试时间和95％的测试功耗。(2)针对漏电流引起的静态测试功耗在总功耗中占相当比例的问题，提出一种基于测试向量的静态功耗优化方法来减少这种功耗。该方法在分析堆栈效应的基础上，结合测试向量中无关位的适当赋值，用遗传算法搜索到最小漏电流向量，使测试时电路产生的静态功耗降到最小主要来源-气动倒角机数控液压倒角机价格低张家港倒角机多少钱。实验结果表明该方法能够有效减小组合电路和时序电路测试时的漏电流，同时保持较高的测试故障覆盖率本文有张家港市泰宇机械有限公司全自动倒角机采集网络整理，http://www.daojiaoj.com。(3)在目前CMOS技术水平下，动态测试功耗仍是测试功耗的主要来源，因此如何降低动态测试功耗是一个十分重要的问题。为此，本文通过测试向量和无关位的分析及扫描单元相容特性的研究，提出一种降低扫描移入阶段电路动态功耗的方法SCANGIN，通过减少扫描链上的无用翻转来降低动态测试功耗。在ISCAS’89基准电路上进行的实验表明，该方法以增加很少的面积开销为代价，取得平均降低测试功耗88.9％的好效果。(4)提出了一种同时降低动态和静态功耗的方法，该方法使用一种新的扫描结构PowerCut，即通过在扫描链中增加阻隔逻辑电路来降低动态功耗和增加控制单元来降低静态功耗，并通过遗传算法获得合适的控制值。实验结果表明该方法能大大降低扫描测试功耗，同时保持测试的故障覆盖率。特别是PowerCut增加的面积开销与扫描单元的扇出数量没有固定的比例关系，PowerCut是目前面积开销最小的结构之一主要来源-气动倒角机数控液压倒角机价格低张家港倒角机多少钱本文有张家港市泰宇机械有限公司全自动倒角机采集网络整理，http://www.daojiaoj.com